Фотоэлектрические методы измерения деформаций / Моск. инж.-физ. ин-т, Фак. техн. физики

Сохранено в:
Шифр документа: 344168,
Вид документа: Книги
Автор: Чинарев, В. К.
Опубликовано: М. , 1989
Физические характеристики: 54 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr18525970000
005 20210210101649.0
010 # # $d 20 к. 
021 # # $a RU  $b [90-11079] 
100 # # $a 20070507d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Фотоэлектрические методы измерения деформаций  $f Моск. инж.-физ. ин-т, Фак. техн. физики 
210 # # $a М.  $d 1989 
215 # # $a 54 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 53-54 (12 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
675 # # $a 620.171.5(075.8) 
700 # 1 $a Чинарев  $b В. К.  $g Виталий Константинович 
701 # 1 $a Рогов  $b В. А.  $g Владимир Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070507  $g psbo