Методы и технические средства тестового диагностирования микропроцессорных блоков элементов со встроенной памятью: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05) / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина

Сохранено в:
Шифр документа: 78641/89СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Чернышев, В. А.
Опубликовано: Харьков , 1989
Физические характеристики: 24 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr18427770000
005 20070503172058.0
100 # # $a 20070503d1989 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Методы и технические средства тестового диагностирования микропроцессорных блоков элементов со встроенной памятью  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05)  $f Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина 
210 # # $a Харьков  $d 1989 
215 # # $a 24 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 22-24 (16 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Чернышев  $b В. А.  $g Владимир Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070503  $g psbo