Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Сохранено в:
Шифр документа: 272857, 274708,
Вид документа: Книги
Автор: Чернышев, А. А.
Опубликовано: М. : Радио и связь , 1988
Физические характеристики: 254, [1] с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr18424960000
005 20191003110551.0
010 # # $a 5-256-00042-Х  $b (в пер.)  $d 1 р. 20 к. 
021 # # $a RU  $b [88-26009] 
100 # # $a 20070503d1988 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем 
210 # # $a М.  $c Радио и связь  $d 1988 
215 # # $a 254, [1] с.  $c ил.  $d 22 см 
300 # # $a Библиогр.: с 249-252 (87 назв.) 
345 # # $9 30000 экз. 
610 0 # $a Полупроводниковые приборы - Надежность 
610 0 # $a Микроэлектронные схемы интегральные - Надежность 
675 # # $a 621.382.019.3+621.382.049.77.019.3 
686 # # $a 32.852+32.844.1  $2 rubbk 
700 # 1 $a Чернышев  $b А. А.  $g Александр Алексеевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070503  $g psbo