Послойный анализ методом масс-спектрометрии вторичных ионов
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Autor principal: | Ченакин, С. П. |
| Publicado: | Киев : о-во «Знание» УССР , 1981 |
| Descripción Física: |
26 с. : граф. ; 20 см
|
| Lenguaje: | Русский |
| Colección: |
Приборостроение
|
| Materias: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Hacer reserva | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||