Послойный анализ методом масс-спектрометрии вторичных ионов
Gespeichert in:
| Format: | |
|---|---|
| 1. Verfasser: | Ченакин, С. П. |
| Veröffentlicht: | Киев : о-во «Знание» УССР , 1981 |
| Beschreibung: |
26 с. : граф. ; 20 см
|
| Sprache: | Русский |
| Schriftenreihe: |
Приборостроение
|
| Schlagworte: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Verfügbar Bestellen | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||