Определение численных характеристик электронного распределения в кристаллах по дифракционным данным: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.18)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Цирельсон, В. Г. |
| Опубликовано: | М. , 1979 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr18151000000 | ||
| 005 | 20070503135505.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070503d1979 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Определение численных характеристик электронного распределения в кристаллах по дифракционным данным $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.18) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1979 |
| 215 | # | # | $a 16 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: АН МССР. Ин-т прикл. физики. Библиогр.: с. 15-16 (8 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.18 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Цирельсон $b В. Г. $g Владимир Григорьевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070503 $g psbo |