Развитие метода эллипсометрии применительно к исследованию оптических свойств одноосных кристаллов: (01.04.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т автоматики и электрометрии

Сохранено в:
Шифр документа: 86970/88,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Хасанов, Т.
Опубликовано: Новосибирск , 1988
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr17789840000
005 20070502150851.0
021 # # $a RU  $b [88-19638а] 
100 # # $a 20070502d1988 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Развитие метода эллипсометрии применительно к исследованию оптических свойств одноосных кристаллов  $e (01.04.05)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т автоматики и электрометрии 
210 # # $a Новосибирск  $d 1988 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 16-18 (15 назв.) 
686 # # $a 01.04.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Хасанов  $b Т.  $g Тохир 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070502  $g psbo