Определение характеристик погрешностей результатов высокоточных косвенных измерений с помощью процессорных измерительных средств методами имитационного моделирования: (05.11.16): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Autor principal: | Хан, С. Г. |
| Publicado: | Л. , 1985 |
| Descripción Física: |
16 с.
|
| Lenguaje: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Hacer reserva | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||