|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr17695850000 |
| 005 |
20070424180519.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 2 р.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [56-52104]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070424d1956 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Полуавтоматический прибор для измерения толщины покрытия катодов электронных приборов
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$d 1956
|
| 215 |
# |
# |
$a 11 с.
$c илл.
$d 26 см
|
| 225 |
2 |
# |
$a Приборы и стенды. Тема 9
$f Акад. наук СССР. Ин-т техн.-экон. информации
$v № П-56-430
|
| 300 |
# |
# |
$a Перед загл. авт.: инж. Н. М. Халецкий. На обл. авт. не указан
|
| 345 |
# |
# |
$9 1770 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Оксидные покрытия - Толщина - Измерения
|
| 700 |
# |
1 |
$a Халецкий
$b Н. М.
$g Николай Михайлович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070424
$g psbo
|
