Разработка методов контроля свойств тонких пленок в электронно-ионной технологии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.12.10)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ467338,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Павлюк, Э. Г.
Опубликовано: Л. , 1983
Физические характеристики: 16 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr17488870000
005 20070424174456.0
100 # # $a 20070424d1983 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка методов контроля свойств тонких пленок в электронно-ионной технологии  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.12.10) 
210 # # $a Л.  $d 1983 
215 # # $a 16 с. 
300 # # $a В надзаг.: Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина). Библиогр.: с. 14-16 (19 назв.) 
675 # # $a 612.38+621.793+621.315.5(043.3) 
686 # # $a 05.12.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Павлюк  $b Э. Г.  $g Эдуард Григорьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070424  $g psbo