|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr17456260000 |
005 |
20171011094209.0 |
010 |
# |
# |
$b (В пер.)
$d 85 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [87-76502]
|
100 |
# |
# |
$a 20070517d1987 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Методы измерения параметров полупроводниковых материалов
$e [Учеб. для вузов по спец. «Полупроводниковые и микроэлектрон. приборы»]
|
205 |
# |
# |
$a 2-е изд., перераб. и доп.
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c Высш. шк.
$d 1987
|
215 |
# |
# |
$a 238, [1] с.
$c ил.
$d 22 см
|
300 |
# |
# |
$a Загл. 1-го изд.: Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов
|
345 |
# |
# |
$9 15000 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Параметры - Измерение - Учебники и пособия
|
675 |
# |
# |
$a 621.315.592.08(075.8)
|
686 |
# |
# |
$a 31.233я73
$2 rubbk
|
700 |
# |
1 |
$a Павлов
$b Л. П.
$g Лев Павлович
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070517
$g psbo
|