Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: [Учеб. для вузов по спец. «Полупроводниковые и микроэлектрон. приборы»]

Сохранено в:
Шифр документа: 212761, 169379,
Вид документа: Книги
Автор: Павлов, Л. П.
Издание: 2-е изд., перераб. и доп.
Опубликовано: М. : Высш. шк. , 1987
Физические характеристики: 238, [1] с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr17456260000
005 20171011094209.0
010 # # $b (В пер.)  $d 85 к. 
021 # # $a RU  $b [87-76502] 
100 # # $a 20070517d1987 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы измерения параметров полупроводниковых материалов  $e [Учеб. для вузов по спец. «Полупроводниковые и микроэлектрон. приборы»] 
205 # # $a 2-е изд., перераб. и доп. 
210 # # $a М.  $c Высш. шк.  $d 1987 
215 # # $a 238, [1] с.  $c ил.  $d 22 см 
300 # # $a Загл. 1-го изд.: Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов 
345 # # $9 15000 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Параметры - Измерение - Учебники и пособия 
675 # # $a 621.315.592.08(075.8) 
686 # # $a 31.233я73  $2 rubbk 
700 # 1 $a Павлов  $b Л. П.  $g Лев Павлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070517  $g psbo