Бесконтактный фотоэлектрический метод определения площади поперечного сечения тел сложной формы: (Применительно к измерениям на слитках полупроводниковых материалов). Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук / Моск. ин-т нефтехим. и газовой пром-сти им. И. М. Губкина
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Оржевский, О. Б. |
| Опубликовано: | М. , 1964 |
| Физические характеристики: |
16 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr17266920000 | ||
| 005 | 20070423143200.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [64-95064] |
| 100 | # | # | $a 20070423d1964 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Бесконтактный фотоэлектрический метод определения площади поперечного сечения тел сложной формы $e (Применительно к измерениям на слитках полупроводниковых материалов). Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата техн. наук $f Моск. ин-т нефтехим. и газовой пром-сти им. И. М. Губкина |
| 210 | # | # | $a М. $d 1964 |
| 215 | # | # | $a 16 с. $c черт. |
| 700 | # | 1 | $a Оржевский $b О. Б. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070423 $g psbo |