Исследование тонкой структуры некоторых полупроводниковых монокристаллов методом рентгеновской дифрактометрии: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Иркут. гос. ун-т им. А. А. Жданова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ольховиков, Ю. А. |
| Опубликовано: | Иркутск , 1974 |
| Физические характеристики: |
25 с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr17212320000 | ||
| 005 | 20070423142223.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [74-24903а] |
| 100 | # | # | $a 20070423d1974 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование тонкой структуры некоторых полупроводниковых монокристаллов методом рентгеновской дифрактометрии $e (01.04.07) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук $f Иркут. гос. ун-т им. А. А. Жданова |
| 210 | # | # | $a Иркутск $d 1974 |
| 215 | # | # | $a 25 с. $c граф. |
| 300 | # | # | $a Список лит.: с. 24-25 |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Ольховиков $b Ю. А. $g Юрий Алексеевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070423 $g psbo |