![](/themes/root/images/default-cover.png)
Исследование механизмов рассеяния электронов проводимости в металлических микроконтактах: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. стен. канд. физ.-мат. наук
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Найдик, Ю. Г. |
Опубликовано: | Харьков , 1982 |
Физические характеристики: |
20 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr16498290000 | ||
005 | 20070412172721.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [83-4442а] |
100 | # | # | $a 20070412d1982 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Исследование механизмов рассеяния электронов проводимости в металлических микроконтактах $e (01.04.07) $e Автореф. дис. на соиск. учен. стен. канд. физ.-мат. наук |
210 | # | # | $a Харьков $d 1982 |
215 | # | # | $a 20 с. $c граф. |
300 | # | # | $a В надзаг.: АН УССР, Физ.-техн. ин-т низких температур. Библиогр.: с. 18-20 (12 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Найдик $b Ю. Г. $g Юрий Георгиевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070412 $g psbo |