Развитие рентгеновских методов исследования параметров электронной и кристаллической структуры поверхностных слоев твердых тел: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.07) / ЛГУ им. А. А. Жданова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Матвеев, Ю. А. |
| Опубликовано: | Л. , 1985 |
| Физические характеристики: |
39 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr15381180000 | ||
| 005 | 20070404174336.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070404d1985 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Развитие рентгеновских методов исследования параметров электронной и кристаллической структуры поверхностных слоев твердых тел $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук $e (01.04.07) $f ЛГУ им. А. А. Жданова |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1985 |
| 215 | # | # | $a 39 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 33-39 (56 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Матвеев $b Ю. А. $g Юрий Александрович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070404 $g psbo |