![](/themes/root/images/default-cover.png)
Исследование структуры слоистых систем диэлектрик-полупроводник методом масс-спектрометрии вторичных ионов: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Марченко, Р. И. |
Опубликовано: | Киев , 1979 |
Физические характеристики: |
22 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr15308130000 | ||
005 | 20070403171557.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [79-9989а] |
100 | # | # | $a 20070403d1979 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Исследование структуры слоистых систем диэлектрик-полупроводник методом масс-спектрометрии вторичных ионов $e (01.04.10) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук |
210 | # | # | $a Киев $d 1979 |
215 | # | # | $a 22 с. |
300 | # | # | $a В надзаг.: АН УССР, Ин-т полупроводников. Список работ авт.: с 20-22 (16 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Марченко $b Р. И. $g Ростислав Иванович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070403 $g psbo |