Образование дефектов в полупроводниках при ионной бомбардировке

Сохранено в:
Шифр документа: МД116877,
Вид документа: Книги
Автор: Мартыненко, Ю. В.
Опубликовано: М. , 1980
Физические характеристики: 27 с. : черт.
Язык: Русский
Серия: Ин-т атом. энергии им. И. В. Курчатова ИАЭ-3261/11
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr15271080000
005 20150202094120.0
010 # # $d 13 к. 
021 # # $a RU  $b [80-54858] 
100 # # $a 20070403d1980 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Образование дефектов в полупроводниках при ионной бомбардировке 
210 # # $a М.  $d 1980 
215 # # $a 27 с.  $c черт. 
225 2 # $a Ин-т атом. энергии им. И. В. Курчатова  $v ИАЭ-3261/11 
300 # # $a Библиогр.: с. 25-27 (44 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
675 # # $a 537.311.322 
700 # 1 $a Мартыненко  $b Ю. В. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070403  $g psbo