|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr15023760000 |
| 005 |
20231031112228.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 20 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [83-18892]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070329d1982 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Дефекты микросхем и их диагностика
$e Учеб. пособие по курсу «Технология приборостроения»
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c МЛТИ
$d 1982
|
| 215 |
# |
# |
$a 52 с.
$c ил.
$d 20 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 50 (6 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные - Техническая диагностика
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.004.58(075.8)
|
| 700 |
# |
1 |
$3 BY-CNB-a172790
$a Малков
$b Я. В.
$g Яков Вениаминович
$c доктор технических наук
$f 1929—2001
|
| 701 |
# |
1 |
$a Карнеев
$b В. М.
$g Владимир Михайлович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070329
$g psbo
|
