Развитие метода трехкристальной рентгеновской дифрактометрии для анализа структуры приповерхностных слоев совершенных монокристаллов: (01.04.18): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / АН СССР, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова

Сохранено в:
Шифр документа: 52544/87,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Ломов, А. А.
Опубликовано: М. , 1987
Физические характеристики: 19 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr14522900000
005 20070323125225.0
021 # # $a RU  $b [87-1726а] 
100 # # $a 20070323d1987 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Развитие метода трехкристальной рентгеновской дифрактометрии для анализа структуры приповерхностных слоев совершенных монокристаллов  $e (01.04.18)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f АН СССР, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова 
210 # # $a М.  $d 1987 
215 # # $a 19 с.  $c граф. 
300 # # $a Библиогр.: с. 17-19 (15 назв.) 
686 # # $a 01.04.18  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Ломов  $b А. А.  $g Андрей Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070323  $g psbo