Поляризационные явления в тонких слоях двуокиси кремния структур Si-SiO₂-м: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ367872СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Кучумов, Б. М.
Опубликовано: Горький , 1979
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr13779430000
005 20070313145232.0
100 # # $a 20070313d1979 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Поляризационные явления в тонких слоях двуокиси кремния структур Si-SiO₂-м  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.10) 
210 # # $a Горький  $d 1979 
215 # # $a 17 с. 
300 # # $a В надзаг.: Горьк. гос. ун-т им. Н. И. Лобачевского. Библиогр.: с. 16-17 (9 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Кучумов  $b Б. М.  $g Борис Максимович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070313  $g psbo