
Прецизионный метод определения постоянных кристаллической решетки различных веществ по рентгенограммам, полученным в области больших углов рассеяния: В кн. Оцепков П. К. и Милевский Л. С. Инфракрасный микроскоп
Gespeichert in:
Format: | |
---|---|
1. Verfasser: | Кудрявцев, В. И. |
Veröffentlicht: | М. , 1959 |
Sprache: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Verfügbar Bestellen | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|