Прецизионный метод определения постоянных кристаллической решетки различных веществ по рентгенограммам, полученным в области больших углов рассеяния: В кн. Оцепков П. К. и Милевский Л. С. Инфракрасный микроскоп
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кудрявцев, В. И. |
| Опубликовано: | М. , 1959 |
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr13366980000 | ||
| 005 | 20070301140908.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070301d1959 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Прецизионный метод определения постоянных кристаллической решетки различных веществ по рентгенограммам, полученным в области больших углов рассеяния $e В кн. Оцепков П. К. и Милевский Л. С. Инфракрасный микроскоп |
| 210 | # | # | $a М. $d 1959 |
| 700 | # | 1 | $a Кудрявцев $b В. И. $g Василий Ильич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070301 $g psbo |