Прецизионный метод определения постоянных кристаллической решетки различных веществ по рентгенограммам, полученным в области больших углов рассеяния: В кн. Оцепков П. К. и Милевский Л. С. Инфракрасный микроскоп

Zapisane w:
Шифр документа: АНД370090,
Format: Книги
1. autor: Кудрявцев, В. И.
Wydane: М. , 1959
Język: Русский
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr13366980000
005 20070301140908.0
100 # # $a 20070301d1959 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Прецизионный метод определения постоянных кристаллической решетки различных веществ по рентгенограммам, полученным в области больших углов рассеяния  $e В кн. Оцепков П. К. и Милевский Л. С. Инфракрасный микроскоп 
210 # # $a М.  $d 1959 
700 # 1 $a Кудрявцев  $b В. И.  $g Василий Ильич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070301  $g psbo