Математическое моделирование в диагностике полупроводниковых гетероструктур : (Количеств. растровая микроскопия) / С. Г. Конников, В. М. Чистяков, И. Н. ЯссиевичЧ. 1
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1990 |
| Физические характеристики: |
58 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препр.
1443 |
| Предмет: |
Загрузка