Математическое моделирование в диагностике полупроводниковых гетероструктур : (Количеств. растровая микроскопия) / С. Г. Конников, В. М. Чистяков, И. Н. ЯссиевичЧ. 1

Сохранено в:
Шифр документа: 383074,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1990
Физические характеристики: 58 с. : ил.
Язык: Русский
Серия: Препр. 1443
Предмет:
00000cam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr12596860002
005 20200410095756.0
010 # # $d Беспл. 
021 # # $a RU  $b [90-44665] 
100 # # $a 20070220d1990 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
200 1 # $a Ч. 1 
210 # # $d 1990 
215 # # $a 58 с.  $c ил. 
225 2 # $a Препр.  $f АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе  $v 1443 
300 # # $a Библиогр.: с. 58 (14 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr12596860000 
610 0 # $a Полупроводники слоистые - Математическое моделирование 
610 0 # $a Полупроводники слоистые - Электронно-микроскопические исследования 
675 # # $a 537.311.322:537.533.35.001.573 
701 # 1 $a Чистяков  $b В. М. 
701 # 1 $a Яссиевич  $b И. Н. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070220  $g psbo