Исследование ионно-имплантированных слоев n-Hg0,8 Cd0,2Te методом отражательной ИК спектроскопии: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ454399,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Козырев, С. П.
Опубликовано: М. , 1983
Физические характеристики: 21 с. : граф.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr12356580000
005 20211208152037.0
021 # # $a RU  $b [83-1888а] 
100 # # $a 20070214d1983 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование ионно-имплантированных слоев n-Hg0,8 Cd0,2Te методом отражательной ИК спектроскопии  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a М.  $d 1983 
215 # # $a 21 с.  $c граф. 
300 # # $a В надзаг.: АН СССР, Физ. ин-т им. П. Н. Лебедева. Библиогр.: с. 17-18 (10 назв.) 
675 # # $a 621.315.592 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Козырев  $b С. П.  $g Станислав Петрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070214  $g psbo