Исследование и разработка методов контроля толщин пленок в процессе формирования многослойных интерференционных покрытий, наносимых напылением в вакууме: (01.04.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Гос. оптич. ин-т им. С. И. Вавилова

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ199368,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Кацнельсон, Л. Б.
Опубликовано: Л. , 1973
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr11770600000
005 20070202153807.0
021 # # $a RU  $b [73-2758а] 
100 # # $a 20070202d1973 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование и разработка методов контроля толщин пленок в процессе формирования многослойных интерференционных покрытий, наносимых напылением в вакууме  $e (01.04.05)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук  $f Гос. оптич. ин-т им. С. И. Вавилова 
210 # # $a Л.  $d 1973 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 19-20 (16 назв.) 
686 # # $a 01.04.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Кацнельсон  $b Л. Б.  $g Леонид Борисович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070202  $g psbo