Пластичность и хрупкость полупроводниковых материалов при испытаниях на микротвердость / М. И. Вальковская, Б. М. Пушкаш, Э. Е. Марончук

Сохранено в:
Шифр документа: 8105, 21787,
Вид документа: Книги
Автор: Вальковская, М. И.
Опубликовано: Кишинев : Штиинца , 1984
Физические характеристики: 107 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr10251140000
005 20140716141451.0
010 # # $d 1 р. 20 к. 
021 # # $b [84-49837]  $a RU 
100 # # $a 20061121d1984 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a MD 
200 1 # $a Пластичность и хрупкость полупроводниковых материалов при испытаниях на микротвердость  $f М. И. Вальковская, Б. М. Пушкаш, Э. Е. Марончук  $g Отв. ред. О. Г. Максимова 
210 # # $a Кишинев  $c Штиинца  $d 1984 
215 # # $a 107 с.  $c ил.  $d 21 см 
300 # # $a В надзаг.: АН МССР, Ин-т прикл. физики. Библиогр.: с. 96-105 (120 назв.) 
345 # # $9 894 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Микротвердость - Определение 
675 # # $a 621.315.592.002.3:620.178 
700 # 1 $a Вальковская  $b М. И.  $g Маргарита Ивановна 
701 # 1 $a Пушкаш  $b Б. М.  $g Борис Михайлович 
701 # 1 $a Марончук  $b Э. Е.  $g Элеонора Евгеньевна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20061121  $g psbo