Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: защищена в июле 2004 г.: утверждена 20.10.04: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович
Enregistré dans:
Format: | |
---|---|
Auteur principal: | Кутавичюс, В. П. |
Publié: | Минск , 2004 |
Description matérielle: |
106 л.
|
Langue: | Русский |
Sujets: | |
Accès en ligne: |
E-документ
|
ОФХ диссертаций
Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Réserver | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|