Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: защищена в июле 2004 г.: утверждена 20.10.04: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович
Saved in:
| Format: | |
|---|---|
| Main Author: | Кутавичюс, В. П. |
| Published: | Минск , 2004 |
| Physical Description: |
106 л.
|
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| E-document: |
E-document
|
ОФХ диссертаций
| All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||