Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: 05.27.01 / Руднев Андрей Валерьевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад130183,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Руднев, А. В.
Опубликовано: Москва , 2003
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br722493
005 20070615192708.2
100 # # $a 20050525d2003 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a ru 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС  $e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук  $e 05.27.01  $f Руднев Андрей Валерьевич  $g [ОАО "Ангстрем"] 
210 # # $a Москва  $d 2003 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиография: с. 19-20 (11 названий). 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18370  $a МИКРОЭЛЕКТРОНИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11906  $a ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2121092  $a СВЕРХБОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18371  $a МІКРАЭЛЕКТРОНІКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11907  $a ІНТЭГРАЛЬНЫЯ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2121097  $a ЗВЫШВЯЛІКІЯ ІНТЭГРАЛЬНЫЯ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
607 # # $3 BY-NLB-ar28572  $a Россия 
607 # # $3 BY-NLB-ar28573  $a Расія 
686 # # $a 47.33.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.13.11  $2 rugasnti 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-597876  $a Руднев  $b А. В.  $g Андрей Валерьевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20050525  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060317  $g psbo