Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов / [В. П. Гольцев и др.]
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Publié: | Минск : Наука и техника , 1980 |
| Description matérielle: |
189, [2] с. : ил., табл. ; 20 см
|
| Langue: | Русский |
| Sujets: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 3 , доступно: 3 | Disponible Réserver | ||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||||||||||||