Оптические методы измерения рельефа поверхности в микронном диапазоне / Галкин А.А., Есьман С.С., Кравченко В.И. и др.
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| Wydane: | Киев , 2003 |
| Opis fizyczny: |
38 с. ; 20 см.
|
| Język: | rosyjski |
| Seria: |
Препринт
1 |
| Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||