Оптические методы измерения рельефа поверхности в микронном диапазоне / Галкин А.А., Есьман С.С., Кравченко В.И. и др.
Saved in:
| Format: | |
|---|---|
| Published: | Киев , 2003 |
| Physical Description: |
38 с. ; 20 см.
|
| Language: | Russian |
| Series: |
Препринт
1 |
| Subjects: |
ОФХ отдела книгохранения
| All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||