Оптические методы измерения рельефа поверхности в микронном диапазоне / Галкин А.А., Есьман С.С., Кравченко В.И. и др.
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Апублікавана: | Киев , 2003 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
38 с. ; 20 см.
|
| Мова: | Руская |
| Серыя: |
Препринт
1 |
| Прадмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||