Вклад поверхностных фаз Si-Al, Si-In-Na, Si-Au в электрическую проводимость кремния: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Белоус Игорь Александрович

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад89499,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Белоус, И. А.
Опубликовано: Владивосток , 2003
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br479299
005 20070615192130.0
100 # # $a 20030512d2003 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a ru 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Вклад поверхностных фаз Si-Al, Si-In-Na, Si-Au в электрическую проводимость кремния  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.07  $f Белоус Игорь Александрович  $g [Владивост. гос. ун-т экономики и сервиса] 
210 # # $a Владивосток  $d 2003 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 15-17 (18 назв.). 
686 # # $a 29.19.03  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.23  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-560014  $a Белоус  $b И. А.  $g Игорь Александрович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20030512  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo