Комплексные исследования электрофизических свойств термически окисленных слоев кремния в производстве полупроводниковых приборов с проектной нормой 0.5-0.8 мкм: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.27.01 / Дудников Анатолий Сергеевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад84390,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Дудников, А. С.
Опубликовано: М. , 2002
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br459665
005 20070615192053.8
100 # # $a 20030207d2002 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Комплексные исследования электрофизических свойств термически окисленных слоев кремния в производстве полупроводниковых приборов с проектной нормой 0.5-0.8 мкм  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e 05.27.01  $f Дудников Анатолий Сергеевич  $g Открытое АО "НИИ молекуляр. электроники и з-д Микрон" 
210 # # $a М.  $d 2002 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 19 (10 назв.). 
686 # # $a 47.09.29  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.23  $2 rugasnti 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-554750  $a Дудников  $b А. С.  $g Анатолий Сергеевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20030207  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo