Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Федоров Алексей Алексеевич
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Федоров, А. А. |
| Опубликовано: | Новосибирск , 2002 |
| Физические характеристики: |
18 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||