VII Международная конференция по микроэлектронике "Microelectronics' 90" : (материалы конференции), [16―18 октября 1990 г. : в 4 т.]. Т. 1 : Материалы микроэлектроники. Диагностика материалов и изделий микроэлектроники, вопросы качества и безотказности элементов и схем
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Descripción Física: |
307 с. : ил., табл.
|
| Lenguaje: | Русский Английский |
| Materias: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Disponible Hacer reserva | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||