
VII Международная конференция по микроэлектронике "Microelectronics' 90" : (материалы конференции), [16―18 октября 1990 г. : в 4 т.]. Т. 1 : Материалы микроэлектроники. Диагностика материалов и изделий микроэлектроники, вопросы качества и безотказности элементов и схем
Захавана ў:
Тып дакумента: | |
---|---|
Фізіч. характарыстыкі: |
307 с. : ил., табл.
|
Мова: | Руская Англійская |
Прадмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Усяго : 2 , даступна: 2 | Даступна Замовіць | |||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|