The 1978 Canadian reliability symposium, October 19―20, 1978, Ottawa, Ontario, Canada: proceedings
Сохранено в:
| 格式: | |
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| 出版: | [S. l. : s. n. , 1979] |
| 實物描述: |
VIII, 168 с. : іл. ; 24 см
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| 語言: | Английский |
| 叢編: |
Microelectronics and reliability
vol. 19, № 1/2 |
1979, Vol.19,№1/2: The 1978 Canadian reliability symposium...
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