
Результаты испытаний монитора вторичной эмиссии для измерения профиля пучка / Р. В. Ревенко [и др.]
Saved in:
Format: | |
---|---|
Published: | Дубна : ОИЯИ , печ. 2017 |
Physical Description: |
8, [1] с. : цв. ил., табл. ; 22 см
|
Language: | Russian |
Series: |
Сообщения Объединенного института ядерных исследований
Р7-2017-58 |
Subjects: |
ОФХ отдела книгохранения
All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|