
Результаты испытаний монитора вторичной эмиссии для измерения профиля пучка / Р. В. Ревенко [и др.]
Захавана ў:
Тып дакумента: | |
---|---|
Апублікавана: | Дубна : ОИЯИ , печ. 2017 |
Фізіч. характарыстыкі: |
8, [1] с. : цв. ил., табл. ; 22 см
|
Мова: | Руская |
Серыя: |
Сообщения Объединенного института ядерных исследований
Р7-2017-58 |
Прадмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|