Измерительная аппаратура для испытания интегральных схем: (обзор по материалам, опубликованным в иностранной печати в 1964―1966 гг.) / составители: Воронов С. В., Киреев Л. Б.

Сохранено в:
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации , 1967
Физические характеристики: 29, [2] с. : граф., ил., схемы, табл. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры научно-технической литературы по электронной технике № 18
00000nam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001548453
005 20190425111906.0
100 # # $a 20190425d1967 |||y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a SU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Измерительная аппаратура для испытания интегральных схем  $e (обзор по материалам, опубликованным в иностранной печати в 1964―1966 гг.)  $f составители: Воронов С. В., Киреев Л. Б. 
210 # # $a Москва  $c Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации  $d 1967 
215 # # $a 29, [2] с.  $c граф., ил., схемы, табл.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры научно-технической литературы по электронной технике  $i Серия: Полупроводниковые приборы и микроэлектроника  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v № 18 
320 # # $a Библиография: с. 30 (17 назв.) 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br456183  $1 2001   $v № 18 
702 # 1 $a Воронов  $b С. В  $4 220 
702 # 1 $a Киреев  $b Л. Б.  $4 220 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20190425  $g RCR 

Схожие документы