Послойный анализ в методах исследования поверхности: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1984 гг.) / О. Д. Протопопов

Сохранено в:
Шифр документа: 194447-10,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Протопопов, О. Д.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1985
Физические характеристики: 73, [1] c. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1985, вып. 10
Загрузка