
Послойный анализ в методах исследования поверхности: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1984 гг.) / О. Д. Протопопов
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Протопопов, О. Д. |
Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1985 |
Физические характеристики: |
73, [1] c. : ил. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Обзоры по электронной технике
1985, вып. 10 |
Загрузка