Электронно-ионные методы субмикронной технологии: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1984 гг.) / Ю. Ф. Быдин [и др.]

Сохранено в:
Шифр документа: 194466-1,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Быдин, Ю. Ф.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1985
Физические характеристики: 39, [1] c. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1985, вып. 1
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001443512
005 20241015114711.0
100 # # $a 20180123d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Электронно-ионные методы субмикронной технологии  $e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1984 гг.)  $f Ю. Ф. Быдин [и др.] 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1985 
215 # # $a 39, [1] c.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 3  $i Микроэлектроника  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1985, вып. 1 
320 # # $a Библиография: с. 38―40 (58 назв.) 
345 # # $9 2500 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br78454  $1 2001   $v 1985, вып. 1 
700 # 1 $3 BY-NLB-ar14821363  $a Быдин  $b Ю. Ф.  $g Юлий Федорович  $c доктор физико-математических наук 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170403  $g RCR