Измерение удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом сопротивления растекания / В. А. Малышев

Сохранено в:
Шифр документа: 126483-17,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Малышев, В. А.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1974
Физические характеристики: 32, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1974, вып. 6
Загрузка