Измерение удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом сопротивления растекания / В. А. Малышев

Сохранено в:
Шифр документа: 126483-17,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Малышев, В. А.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1974
Физические характеристики: 32, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1974, вып. 6
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001377187
005 20170415112820.0
100 # # $a 20170415d1974 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Измерение удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом сопротивления растекания  $f В. А. Малышев  $g [Г. Ф. Лымарь] 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1974 
215 # # $a 32, [1] с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $i Серия: Полупроводниковые приборы  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1974, вып. 6 
320 # # $a Библиография: с. 30―32 (27 назв.) 
345 # # $9 1650 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br78453  $1 2001   $v 1974, вып. 6 
700 # 1 $3 BY-SEK-233756  $a Малышев  $b В. А. 
702 # 1 $a Лымарь  $b Г. Ф.  $4 340 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170415  $g psbo