Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля / С. А. Еремин, Д. Б. Десятов, В. В. Сысоев

Сохранено в:
Шифр документа: 205701-5,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Еремин, С. А.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1988
Физические характеристики: 54 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1988, вып. 5
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001376972
005 20170414134732.0
100 # # $a 20170414d1988 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля  $f С. А. Еремин, Д. Б. Десятов, В. В. Сысоев 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1988 
215 # # $a 54 с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 8  $i Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1988, вып. 5 
320 # # $a Библиография: с. 50―54 (57 назв.) 
345 # # $9 1900 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br0000429881  $1 2001   $v 1988, вып. 5 
700 # 1 $a Еремин  $b С. А.  $g Станислав Алексеевич 
701 # 1 $a Десятов  $b Д. Б.  $g Дмитрий Борисович 
701 # 1 $a Сысоев  $b В. В.  $g Валерий Васильевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170414  $g psbo