Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А3В5: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1989 гг.) / А. В. Бобыль [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Бобыль, А. В. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1990 |
| Физические характеристики: |
64 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1990, вып. 1 |
Загрузка