Методы контроля толщин покрытий из драгоценных металлов / С. М. Сысоев
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Сысоев, С. М. |
| Опубликовано: | Москва : Институт "Электроника" , 1970 |
| Физические характеристики: |
29, [2] с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1970, вып. 1 |
1970, Вып.1: Методы контроля толщин покрытий из... / Сысоев С. М.
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||